X射线衍射仪技术(XRD)是通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的一种仪器，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法，X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
规格型号：D8 ADVANCE
生产厂家：BRUKER 布鲁克
测试项目
1.物相定性分析
2.物相定量分析
3.精确测定点阵常数
4.晶粒大小及晶格畸变测定
XRD可解决的问题
1.当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例;
2.很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度;
3.新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标;
4.产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力;
5.纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
应用领域
冶金、石油、化工、科研、航空航天、医药、材料生产等
送样要求
可接收粉末、块体和薄膜测试，不能含有铁，具体要求如下：
1.粉末：过200目筛，样品量不少于0.5g;极少量样品可选无背景样品台;
2.块体：被测面平整且尽量光滑，确保样品能装入φ25mm×3mm的样品槽;
3.薄膜：若采用反射模式，尺寸要求同块体;若选用透射模式，要求样品有一定的柔韧性。
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