透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜, 使用TEM可以观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构。
规格型号：JEM-2100
生产厂家：日本电子株式会社(JEOL)
主要技术指标
1.晶格分辨率：0.14nm，点分辨率：0.19nm;
2.加速电压：80KV-200KV;
3.放大倍数：50-1500000.
4.元素分析范围(Elements detectable)：B5-U92
服务内容
1.材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察;
2.物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定;
3.高分辨晶格和结构像观察;
4.纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。
主要功能
1.质厚衬度像;
2.选区电子衍射和微衍射;
3.衍射衬度明场像和暗场像;
4.高分辨像;
5.晶体点阵类型和点阵常数测定;
6.微小尺寸和形状的检测;
7.电子能量散射谱分析等。
应用范围
TEM的优质性能使其成为生命科学、纳米技术、医学、物理学、生物学、制药、半导体、材料科学等相关科学领域的显微形貌、晶体结构和相组织的重要观察与分方法，可应用于如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等方面，可提供样品表面特征、形状、大小、结构、元素和复合结构等，成为探索客观物质世界微观结构奥秘的强有力的手段。
样品要求
非磁性的稳定样品，复型样品，金属、陶瓷和玻璃的块体、薄膜和粉末等，更多检测事项可与技术工程师联系：400-850-6066
