场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像观察及图像处理。 具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。主要用于观测：纳米材料显微结构、尺寸及相互作用;材料微结构、相组成及相分布;材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析；材料实效分析。配有能谱仪(EDX)，用于成分分析。
场发射扫描电子显微镜(FESEM) Sigma 500应用
材料科学：
1.无机材料分析：分析无机材料形貌结构。
2.有机-无机复合材料分析：研究复合材料的成分、显微结构、分散情况。
3.高分子材料分析：橡胶的形态结构以及断裂形态;纤维材料表面在使用过程的磨损以及形貌变化。
样品要求
1.块体样品，裁成大小为直径3mm的圆片，用砂纸打磨厚度到100微米以下，进行点击双喷或离子键薄，使观察表征区域厚度为200nm以下;
2.粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥，粉末样>0.01g,液体样>5ml;
3.超薄切片后的样品及薄膜样品需放置在TEM载网或支持膜。
生命科学：
1.动物和植物组织的超微结构观察
2.微生物观察(细菌、病毒)
3.组织内的元素分布分析
实验结果交付：提供实验操作步骤、设备、原始电镜图片等，倍数依据实际情况选择合适放大倍数，还可根据客户需求进行调整
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